جایگذاری، تعیین ویژگیها و بررسی خواص و کاربردهای لایه های نازک zno
پایان نامه
- وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه فردوسی مشهد - دانشکده علوم
- نویسنده سعید اوجانی شیرمرد
- استاد راهنما حسین کشمیری
- تعداد صفحات: ۱۵ صفحه ی اول
- سال انتشار 1377
چکیده
لایه های نازک اکسید روی دارای خواص نیم رسانایی، نوررسانایی، پاییزوالکتریکی می باشد. آنها دارای هدایت الکتریکی و شفافیت اپتیکی بالا در ناحیه مریی، ضریب دی الکتریکی بالا، شکاف انرژی ممنوع بالا، اپتیک غیرخطی بالا و ضرایب پاییزوالکتریکی، صوتی - نوری و الکترواپتیکی بالا می باشد. به واسطه دارابودن این خواص و قیمت پایین، لایه های اکسید روی در ساخت قطعات موج صوتی سطحی (saw)، بسیاری از قطعات الکترواپتیکی، اپتیک تجمعی، حسگرهای گاز، حسگرهای فشار و سلولهای خورشیدی فوتوولتایی به کار برده شده اند. لایه های اکسید روی را می توان به چندین روش لایه نشانی معمول تهیه نمود. اما روشهای اسپاترینگ (برای کاربردهای کیفیت بالا) و لایه نشانی بخار شیمیایی آلی فلزی (mocvd) و تجزیه حرارتی اسپری (برای سادگی و قیمت پایین) بیشتر مورد استفاده قرار گرفته اند. در این پایان نامه، ابتدا کاربردهای مختلف ، روشهای لایه نشانی مختلف و خواص (ساختاری، الکتریکی و اپتیکی) لایه های نازک zno مرور شده است . چون یکی از مهمترین ویژگیهای لایه های zno کاربرد آنها را بعنوان پوششهای هادی شفاف است ، کار عملی انجام شده در این پروژه در مورد همین ویژگیها می باشد. اثر پارامترهای جایگذاری بر روی هدایت الکتریکی و شفافیت اپتیکی این لایه ها نیز مورد بررسی قرار گرفته است . در فصل ششم، گزارشی در مورد تهیه لایه های هادی شفاف zno که به روشهای تبخیر حرارتی و اسپری پایرولیزیز تهیه شده اند، داده شده است . در روش تبخیر حرارتی اثر پارامترهای جایگذاری و همچنین برنامه حرارتی پس از جایگذاری لایه در هوا و در خلاء مورد مطالعه قرار گرفته است . در روش اسپری پایرولیزیز، اثر ترکیب محلول اسپری، ضخامت لایه (حجم محلول اسپری شده)، غلظت ناخالص دهنده و دمای زیر لایه (در ضمن جایگذاری لایه) بر روی مقاومت سطحی و شفافیت لایه ها مورد بررسی قرار گرفته است . تمام پارامترهای جایگذاری در دو روش بالا بهینه سازی شدند. نتایج نهایی بدست آمده کاملا قابل مقایسه با نتایج گزارش شده به وسیله محققین دیگر بودند.
منابع مشابه
بررسی تأثیر تابش لیزر بر خواص الکتریکی و ساختاری لایه های نازک zno
در این مقاله لایه نازک zno به روش سل ژل بر روی زیرلایه شیشه ساخته شده است. لایه های اولیه ابتدا در دمای 100 و ˚c 240 خشک و سپس در دماهای 300 ، 400 و ˚c 500 پخت شده اند. اندازه گیری مقاومت دو نقطه ای نشان می دهد که مقاومت الکتریکی لایه های آماده شده، بسیار زیاد است. تابش پرتو لیزر اگزایمر krf ( 248nm = λ ) با تعداد پالس 1000 ، فرکانس 1hz و انرژی 90mj/cm2 بر سطح لایه باعث کاهش مقاومت ...
متن کاملبررسی تاثیر کاشت یون نیتروژن بر خواص لایه نازک اکسید روی (ZnO)
در این پژوهش، اثر کاشت یون +N در نیمرسانای ZnO (اکسید روی) جهت بررسی تغییرات خواص لایۀ نازک ZnO بررسی شده است. بدین منظور لایۀ نازکی از ZnO به ضخامت nm ١٢۰ با استفاده از روش کندوپاش تهیه شد و سپس به وسیلۀ یونهای N+ با انرژی keV ۵۰ و شار ١۰١٤ (/cm2یون) به مدت زمان ۳ ثانیه بمباران شد. تأثیر کاشت یون+N در خواص بلوری ZnO توسط آنالیزXRD (پراش پرتو X) و تغییرات ریختشناسی سطح به وسیلۀ آنالیزهای AF...
متن کاملتاثیر آلایش fe و co بر خواص ساختاری و اپتیکی لایه های نازک zno
لایههای نازکzn0.97tm0.03o (tm = co, fe) روی زیر لایههای شیشهای با روش سل-ژل رشد داده شدند و اثرات جاینشانی فلزات واسطه بر روی خواص ساختاری و اپتیکی لایههای zno مورد بررسی قرار گرفت. طیفهای حاصل از پراش پرتو x از نمونهها نشان داد که تمام لایهها دارای ساختار ورتسایت میباشند. طیف تراگسیل نوری در بازه طول موجی 200-800 نانو متر برای نمونهها ثبت گردید و با استفاده از آن گاف نواری لایهها مح...
متن کاملبررسی اثر زمان لایه نشانی بر خواص فیزیکی لایه های نازک N:ZnO
در این تحقیق لایههای نازک N:ZnO روی زیر لایه شیشه با استفاده از کندوپاش DC در فشار کاری Torr 2-10×2 در مخلوط گازهای آرگون و نیتروژن لایه نشانی شدند. ضخامت، ریختشناسی، ساختار کریستالی و خواص اپتیکی لایهها در سه زمان کندوپاش مختلف شناسایی شدند. با افزایش زمان لایه نشانی، ضخامت لایهها، زبری سطح و ارتفاع دانهها افزایش مییابد. لایهها دارای بافت قوی کریستالی در راستای (002) با ساختار هگزاگونال...
متن کاملبررسی خواص لایه های نازک zno حاوی نانوذرات sio2
در این تحقیق لایه های نازک نانوکامپوزیت اکسید روی – سیلیکا تهیه شدند و سطوح سنتز شده از نظر خواص فیزیکی و شیمیایی و عوامل موثر بر خواص سطوح مورد ارزیابی و مشخصه یابی قرارگرفتند. تهیه ی لایه های نازک از طریق سل- ژل با استفاده از موادی از جمله زینک استات دی هیدرات ، اتانول، اسید نیتریک، آب و تترا اتیل اورتوسیلیکات، به روش لایه نشانی چرخشی بر روی زیرلایه شیشه¬ای انجام و لایه-های نازک بدست آمده در ...
بررسی خواص ساختاری و اپتیکی لایه های نازک اکسید ایندیم قلع
در این تحقیق، لایه های نازک اکسید ایندیم قلع (ITO) به روش تبخیر با پرتو الکترونی بر روی زیرلایه های شیشه ای. با ضخامتهای اسمی 50، 100، 170 و 250 نانومتر، با نرخ انباشت ثابت 10/0 نانومتر بر ثانیه لایه نشانی شده اند. دمای زیرلایه ها در خلال لایه نشانی در دمای 400 درجه سانتیگراد ثابت نگه داشته شد. از تکنیک های پراش پرتو ایکس (XRD) و بازتاب سنجی اشعه ایکس (XRR) برای آنالیز ساختاری لایه های نازک اس...
متن کاملمنابع من
با ذخیره ی این منبع در منابع من، دسترسی به آن را برای استفاده های بعدی آسان تر کنید
ذخیره در منابع من قبلا به منابع من ذحیره شده{@ msg_add @}
نوع سند: پایان نامه
وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه فردوسی مشهد - دانشکده علوم
کلمات کلیدی
میزبانی شده توسط پلتفرم ابری doprax.com
copyright © 2015-2023